Ｘ線分析の進歩 23

本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

Ⅰ. 放射光：総説
　　1.フォトン・ファクトリー―放射光の特徴とその利用―
　　　(岩崎 博)

Ⅱ. Ｘ線放射スペクトル：報文
　　2.DV-Xα法によるＸ線分光の理論的研究
　　　(足立裕彦・中松博英・向山 毅)

　　3.ホウ素化合物のBKX線放射スペクトル
　　　(上月秀徳・元山宗之)

　　4.電子線励起によるKβ/Kα強度比の化学的効果
　　　(玉木洋一)

Ⅲ. EXAFSその他：報文
　　5.銅K殻XAENSによる酸化物超伝導体の電子構造の研究
　　　(小杉信博)

　　6.実験室における蛍光検出EXAFS測定法の開発
　　　(田路和幸・宇田川康夫)

　　7.Ｘ線光音響イメージング法による差像解析
　　　(河野慎一・升島 努・豊田太郎・塩飽秀啓・安藤正海・雨宮慶幸・樋上照男・横山 友・
　　　今井日出夫・玉井 元・角山政之・平賀忠久・和田幾江・池田佳代)

Ⅳ. Ｘ線回折：報文
　　8.カリウム型ゼオライトLの結晶構造のカリウム含有量依存性
　　　(平野正義・加藤正直・浅田栄一・堤 和男・白石敦則)

　　9.Ｘ線回折法による表面粗さ測定
　　　(小坂雅夫)

　　10.冷却型CCDセンサーによる粉末Ｘ線回折図形の計測
　　　(加藤正直・岡倉正次・服部敏明・榎本茂正・水島 廣・木村安一)

　　11.イメージングプレートの原理とＸ線分析分野への応用
　　　(森 信文・宮原諄二)

Ⅴ. 蛍光Ｘ線分析：報文
　　12.分子軌道法を用いたS₈Kβ蛍光Ｘ線スペクトルの計算
　　　(河合 潤・橋本健朗)

　　13-1.蛍光Ｘ線分析法におけるガラスビードの強熱減量(LOI)，強熱増量(GOI)，希釈率補正
　　　　　―その1
　　　(片岡由行・庄司静子・河野久征)

　　13-2.蛍光Ｘ線分析法におけるガラスビードの強熱減量(LOI)，強熱増量(GOI)，希釈率補正
　　　　　―その2
　　　(庄司静子・山田興毅・古澤衛一・河野久征・村田 守)

　　14.蛍光Ｘ線分析法による薄膜および多層薄膜の濃度・膜厚測定
　　　(河野久征・荒木庸一・片岡由行・村田 守)

　　15.初期須恵器の産地測定法
　　　(三辻利一)

　　16.全反射蛍光Ｘ線分析法による微量分析
　　　(宇高 忠・迫 幸雄・小島真次郎・岩本財政・河野 浩・渥美 純)

Ⅵ. Ｘ線光電子分光：報文
　　17.軟Ｘ線マイクロビームの生成と微小領域の光電子分光(μ-XPS)
　　　(二宮 健・長谷川正樹)

　　18.モノクロＸ線光電子分光における帯電制御の方法
　　　(伊藤秋男・松尾 勝)

　　19.制限視野型Ｘ線光電子分光法の微小部分析への応用
　　　(山下孝子・古主泰子・山本 公)

　　20.スモールスポット型Ｘ線光電子分光法におけるピーク形状の改善
　　　(塩沢一成)

Ⅶ. 既掲載Ｘ線粉末回折図形索引

Ⅷ. 1990年Ｘ線分析のあゆみ
　　1.Ｘ線分析関係文献集
　　2.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況
　　3.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況
　　4.Ｘ線分析研究懇談会規約
　　5.｢Ｘ線分析の進歩｣投稿手引き
　　6.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会1992年度幹事名簿
　　7.｢Ｘ線粉末回折図形集｣の収集に御協力のお願い

Ⅸ. Ｘ線分析関係機器資料
Ⅹ. 既刊総目次
ⅩⅠ. Ｘ線分析の進歩23 索引