Ｘ線分析の進歩 33

本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

Ⅰ. 総説・解説
　　1. フォトンファクトリーにおける放射光蛍光X線分析―過去・現在・未来―
　　　（高エネ機構物構研）飯田厚夫

　　2. 偏光と位相に関連した放射光X線利用研究
　　　（高エネ機構物構研，東大工総合試験所^＊，東大工^＊＊）平野馨一，沖津康平^＊，
　　　　　百生　敦^＊＊，雨宮慶幸^＊＊

　　3. 蛍光X線分析法による高融点炭化物，窒化物およびホウ化物中の含有不純物の定量
　　　（産総研，横浜国大^＊）金子啓二，熊代幸伸^＊，平林正之

　　4. X線回折法による表面・界面の解析
　　　（東大物性研）高橋敏男

　　5. K，Ca，Rb，Srによる須恵器窯の分類
　　　（大谷女子大，東北芸術工大^＊）三辻利一，松井敏也^＊

　　6. X線検出器の最近の動向について
　　　（仁木工芸）安藤真悟

Ⅱ. 全反射，反射率，定在波，ナノ，表面・界面
　　7. 楔形Siフィルターを用いた放射光励起全反射蛍光X線分析における増感効果
　　　（立命館大SRセ，広島大工^＊，立命館大理工^＊＊）西勝英雄，早川慎二郎^＊，白石晴樹^＊＊，園部将実^＊＊，杉山　進^＊＊，鳥山壽之^＊＊

　　8. 最小二乗法によるX線反射率解析値の信頼性評価法の検討
　　　（日立製作所日立研，日立協和エンジ^＊，日立製作所ストレージシステム^＊＊）上田和浩，百瀬秀人,平野辰巳,宇佐美勝久^＊，今川尊雄^＊＊

　　9. 銀ナノ微粒子多層膜における周期多層化とその評価
　　　（産総研，大阪市大^＊，物質・材料研^＊＊）桑島修一郎，吉田郵司，安部浩司，谷垣宣孝，八瀬清志，長澤　浩^＊，桜井健次^＊＊

　　10. 多層膜における全電子収量X線定在波法を用いた層構造の面内分布測定の試み
　　　（原研関西研，NTTアドバンステクノロジ^＊，ローレンスバークリ国立研^＊＊）村松康司，竹中久貴^＊，E.M.GULLIKSON^＊＊，R.C.C.PERERA^＊＊

　　11. 多点マッピング全反射蛍光X線分析によるシリコンウェハ全面平均濃度分析に関する
　　　　　統計学的検討
　　　（新日鐡先端研，東大院工^＊，ワッカー・NSCE^†）森　良弘^†，上村賢一^†，飯塚悦功^＊

　　12. X線反射率法による表面層解析における密度傾斜効果のシミュレーション
　　　（物質・材料研）水沢まり，桜井健次

　　13. 反射X線小角散乱法による薄膜中のナノ粒子・空孔サイズ測定
　　　（理学電機X線研）表　和彦，伊藤義泰

　　14. Si（001）表面のSurface Melting現象のin situ観察
　　　（新日鐵先端研）木村正雄，碇　敦

　　15. X線反射率測定用屈折透過型X線フィルタの試作と有用性について
　　　（京大院工^＊，京大ベンチャービジネスラボ^＊＊）籠　恵太郎^＊＊，石田謙司^＊，＊＊，
　　　　　堀内敏寿^＊，松重和美^＊＊

Ⅲ. 顕微鏡
　　16. New Capabilities and Application of Compact Source-optic Combinations
　　　（X-ray Optical Systems）P.BLY，T.BIEVENUE，J.BURDETT，Z.W.CHEN，N.GAO，D.M.GIBSON，W.M.GIBSON，H.HUANG，I.Yu.PONOMAREV

　　17. 動画撮像可能な蛍光X線顕微鏡の開発
　　　（物質・材料研）桜井健次

Ⅳ. 化学状態分析
　　18. Mn（Ⅱ）のKβ’およびKb5蛍光X線スペクトルの強度比変化
　　　―アンジュレータ放射光による微量化学状態分析の可能性―
　　　（物質・材料研）江場宏美, 桜井健次

　　19. V Kβ線を用いた電子線衝撃X線状態分析の検討
　　　（宮城教育大）菅原健久，玉木洋一

Ⅴ. 装置
　　20. 銅めっき法とX線マイクロプローブとを組み合わせたSi（Li）素子の特性評価
　　　（国立環境研，レイテック^＊，トーニック^＊＊，神奈川大工^＊＊＊）久米　博，尾鍋秀明^＊，小日向　貢^＊＊，柏木利介^＊＊＊

　　21. 飛行時間型光電子分光装置の開発
　　　（島津製作所基盤技術研）岩本　隆，原田高宏，森久祐司，南雲雄三，藤田　真，林　茂樹

Ⅵ. データ処理
　　22. EXEFS解析ソフト
　　　（理学電機）田口武慶

　　23. 蛍光X線スペクトルの移動差し引きによる塩素の定量
　　　（信越化学）国谷譲治

Ⅶ. 土壌・環境分析
　　24. 小型蛍光X線分析装置を用いた土壌中の重金属分析
　　　（鋼管計測，アワーズテック^＊）永田昌嗣，宇高　忠^＊，椎野　博^＊，吉川裕泰

　　25. 新開発の3ビーム励起源とシリコンドリフト検出器を備えた
　　　可搬型蛍光X線分析装置によるシナイ半島出土遺物のその場分析の試み
　　　（東理大理，アワーズテック^＊）中井　泉，山田祥子，寺田靖子，中嶋佳秀^＊，高村浩太郎^＊，椎野　博^＊，宇高　忠^＊

　　26. エネルギー分散型蛍光X線分析による環境試料分析のための基礎検討
　　　（京大工，京大院工^＊）古谷好章，真鍋晶一^＊，河合　潤^＊

Ⅷ. 既掲載X線粉末回折図形索引 No.1（Vol.8）～No.10（Vol.18）（物質名と化学式名による）

Ⅸ. 2001年X線分析のあゆみ
　　1. X線分析関係国内講演会開催状況
　　2. X線分析関係懇談会講演会開催状況
　　3. X線分析研究懇談会規約
　　4. 「X線分析の進歩」投稿の手引き
　　5. （社）日本分析化学会X線分析研究懇談会2001年度運営委員名簿
　　6. 「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

Ⅹ. X線分析関連機器資料

ⅩⅠ. 既刊総目次

ⅩⅡ. X線分析の進歩33　索引