Ｘ線分析の進歩 36

本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

Ⅰ. X線分析討論会第40回記念講演会企画依頼寄稿
　　1. ［解 説］環境リサイクルを巡る経済産業省の取り組み（電気電子製品中の有害物質対策等）
　　　（経産省産業技術環境局）中村啓子

　　2. ［報 文］エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDXRF）による土壌中の砒素・鉛含有量評価
　　　（産総研地質情報研究部門，国土防災技術^＊）丸茂克美，氏家　亨^＊，江橋俊臣

　　3. ［解 説］蛍光X線分析用標準物質
　　　（明大理工）中野和彦，中村利廣

　　4. ［解 説］放射光軟X線状態分析の研究・技術動向
　　　（原研関西研）村松康司

　　5. ［解 説］蛍光X線分析法における近年の要素技術の進歩と特殊な測定方法
　　　（大阪市大院工，PRESTO-JST^†）辻　幸一

Ⅱ.　解説・総説
　　6. モンテカルロ・シミュレーションの電子線マイクロアナライザー分析への応用
　　　（日軽分析セ）長田義男

　　7. X線回折理論と結晶構造解析の系譜および高木-Taupin 型X線多波動力学的回折理論の導出と検証
　　　（東大院工総合研究機構）沖津康平

　　8. 高速・高分解能粉末X線回折装置の評価
　　　（スペクトリス）山路　功

　　9. 湿式化学分析と組み合わせた蛍光X線による半導体材料の分析
　　　（NTTアドバンステクノ）籔本周邦，植松重和，篠塚　功，石﨑　享

　　10. 乾電池式X線源と蛍光X線分析
　　　（京大院工^＊，京都府警科捜研^＊＊）井田博之^＊，＊＊，河合　潤^＊

　　11. 広域X線発光微細構造
　　　（京大院工）河合　潤

　　12. 半導体検出器
　　　（京大院工）河合　潤，村上浩亮，小山徹也

Ⅲ. 報 文：有害元素分析
　　13. 水溶液中の微量有害物質の分析
　　　（理学電機工業）森山孝男，山田康治郎，河野久征

　　14. 散乱X線の理論強度を用いる樹脂中カドミウム，鉛の蛍光X線分析
　　　（島津総合分析試験セ）越智寛友，南竹里子，渡邊信次

　　15. 乾電池小型蛍光X線装置による環境標準試料の蛍光X線分析
　　　（京大院工，京都府中小企業総合セ^＊）石井秀司，宮内宏哉^＊，日置　正^＊，河合　潤

　　16. Cd Ka線を用いた蛍光X線分析法による玄米中sub-ppmレベルのCdの迅速定量
　　　（東理大理，スペクトリス^＊）永山裕之，小沼亮子，保倉明子，中井　泉，松田賢士^＊，水平　学^＊，赤井孝夫^＊

Ⅳ. 報 文：方法・装置
　　17. YBa₂Cu₃O_7-x単結晶におけるX線回折像に現れるスペックルと超伝導相転移の相関
　　　（北九州市大国際環境工学，兵庫県立大院物質理^＊，JASRI^＊＊，原研中性子利用セ^＊＊＊）鈴木　拓，高野秀和^＊，竹内晃久^＊＊，上杉健太朗^＊＊，朝岡秀人^＊＊＊，鈴木芳生^＊＊

　　18. 「微分型」X線ラマン散乱分光の試み
　　　（東北大多元研，JASR^＊，東大生研^＊＊）林　久史，河村直己^＊，七尾　進^＊＊

　　19. キノア種子のX線元素マッピングにおける自己吸収の影響の低減
　　　（大阪市大院工，大阪市大院生活科学＊，Inst. of Low Energy Nucl. Phys.^＊＊，PRESTO-JST^†）江本哲也^†，小西洋太郎^＊，X. Ding^＊＊，辻　幸一^†

　　20. 全反射蛍光X線法によるシリコンウェハ表面汚染の全面迅速マッピング分析
　　　（シルトロニック，理学電機工業＊，東大院工^＊＊）森　良弘，上村賢一，河野　浩^＊，山上基行^＊，清水康裕^＊，鬼塚義延^＊，飯塚悦功^＊＊

　　21. 卓上型放射光装置“みらくる”を用いた重元素の蛍光X線分析
　　　（立命館大放射光生命科学研究セ^＊，立命館大理工^＊＊）西勝英雄^＊，山田廣成^＊，＊＊，平井　暢^＊＊，小川浩太郎^＊＊

　　22.マルチエネルギー強力X線光源強度の加速電圧依存性とその経時変化
　　　（京大院工，東大生研^＊，理学電機工業^＊＊，リガク^＊＊＊，大阪工大情報科学^＊＊＊＊，東理大理工^{＊＊＊＊＊}）石井秀司，尾張真則^＊，堂井　真^＊＊，塚本勝美^＊＊＊，高橋貞幸^＊＊＊，志水隆一^＊＊＊＊，二瓶好正^{＊＊＊＊＊}

Ⅴ. 報 文：化学状態分析
　　23. 全蛍光収量法で測定した軟X線吸収スペクトルの電子状態計算による形状解析：粉末および水溶液中のアルミン酸ナトリウムの構造解析
　　　（福岡大高機能研^＊，Univ. Nevada^＊＊，LBNL^＊＊＊，福岡大理^＊＊＊＊）松尾修司^＊， P.Nachimuthu^{＊＊,＊＊＊}，D.W.Lindle^＊＊，R.C.C.Perera^＊＊＊，脇田久伸^{＊,＊＊＊＊}

　　24. XPSおよびXANES法を用いた金属ポルフィリン錯体の電子状態分析
　　　（福岡大理，福岡大高機能研^＊）山重寿夫，松尾修司＊，栗崎　敏，脇田久伸＊

　　25. 二核および三核鉄（Ⅲ）シッフ塩基錯体のX線光電子スペクトル
　　　（龍谷大理工）根来　世，浅田英幸，藤原　学，松下隆之

　　26. 二酸化マンガンに吸着した金（Ⅲ）イオンの還元挙動：XPSによる研究
　　　（九大院理^＊，福岡大理^＊＊，福岡大高機能研^＊＊＊）大橋弘範^＊，江副博之^＊＊，山重寿夫^＊＊，岡上吉広^＊， 松尾修司^＊＊＊，栗崎　敏^＊＊，脇田久伸^{＊＊，＊＊＊}，横山拓史^＊

Ⅵ. 既掲載X線粉末回折図形索引 No.1（Vol.8）～No.10（Vol.18）（物質名と化学式名による）

Ⅶ. 2004年X線分析のあゆみ
　 1. X線分析関係文献集
　 2. X線分析関係国内講演会開催状況
　 3. X線分析研究懇談会講演会開催状況
　 4. X線分析研究懇談会規約
　 5. 「X線分析の進歩」投稿の手引き
　 6. （社）日本分析化学会X線分析研究懇談会2005年度運営委員名簿
　 7. 「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

Ⅷ. X線分析関連機器資料

Ⅸ. 既刊総目次

Ⅹ. X線分析の進歩36　索引