Ｘ線分析の進歩 15

本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

Ⅰ.特集：エネルギー分散方式の進歩
　　1.半導体放射線検出器の現状
　　　(阪井英次)

　　2.エネルギー分散型Ｘ線分析システム
　　　(松森伸夫)

　　3.二次ターゲット励起法によるED蛍光Ｘ線分析
　　　(大原荘司・言水修治)

Ⅱ.Ｘ線分析の応用
　　<Ⅱ-1.工業分析の応用>
　　4.蛍光Ｘ線による金属箔の厚さ測定と定量分析
　　　(降屋幹男・大河津正司)

　　<Ⅱ-2.環境分析への応用>
　　5.河川水中の懸濁物の蛍光Ｘ線分析
　　　(刈谷哲也)

　　6.大気浮遊塵試料への蛍光Ｘ線分析の利用
　　　(土器屋由起子・広瀬勝己)

　　<Ⅱ-3.考古学への応用>
　　7.須恵器の蛍光Ｘ線分析(第3報)関東地方産出須恵器の化学特性
　　　(三辻利一・森田松治郎・山本成顕)

　　<Ⅱ-4.生化学, 臨床化学への応用>
　　8.キレート濾紙濃縮―内標準添加法による尿中微量元素のエネルギー分散型
　　　(劉 平・松本和子)

　　9.エネルギー分散型Ｘ線分析法によるヒト肝臓病理組織のイオウ, カルシウム, 鉄, 銅, および亜鉛の定量
　　　(大田顕成・松林 隆・大部 誠・相田尚文)

　　<Ⅱ-5.セラミックスへの応用>
　　10.けい光Ｘ線分析による高融点ジルコニウム化合物中の含有不純物の分析(Ⅰ)
　　　(金子啓二・熊代幸伸)

Ⅲ.Ｘ線回折・基礎と応用
　　11.わん曲形PSPCを用いた微小領域Ｘ線回折システムとその応用
　　　(三浦 仁)

　　12.Ｘ線回折分析における結晶粒子数の効果
　　　(築山 宏)

　　13.Rietveld解析システムXPDの改訂
　　　(泉 富士夫)

Ⅳ.状態分析
　　14.非晶質シリコンのEXAFS測定
　　　(籔本周邦・前山 智)

　　15.励起法による蛍光Ｘ線スペクトルのプロフィル変化
　　　(河合 潤・合志陽一)

　　16.蛍光Ｘ線スペクトルの分子軌道計算-SKβ
　　　(福島 整・飯田厚夫・合志陽一)

Ⅴ.Ｘ線マイクロアナリシス
　　17.半自動化Ｘ線マイクロアナライザーによる鉱物の定量分析
　　　(刈谷哲也・吉倉紳一)

Ⅵ.装置
　　18.メッキ液自動分析装置の開発
　　　(佐藤正雄・羽東良夫・小川誠慈)

　　19.表面処理鋼板のＸ線分析計
　　　(藤野允克・松本義朗)

　　20.芯線巻取り式ガスフロープロポーショナルカウンタ
　　　(岡下英男・上田義人・越智寛友)

Ⅶ.資料
　　21.Ｘ線分光法による水分析のための予備濃縮(全訳)
　　　R.Van GRIEKEN(吉永 敦・合志陽一)

　　22.金属材料の微量元素の市販標準試料
　　　(河島磯志)

Ⅷ.標準粉末Ｘ線回折図形
　　1.標準粉末Ｘ線回折図形集 No.８

Ⅸ.1982年Ｘ線分析のあゆみ
　　1.Ｘ線分析関係文献集
　　2.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況
　　3.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況
　　4.Ｘ線分析研究懇談会規約
　　5.｢Ｘ線分析の進歩｣投稿手引き
　　6.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会1984年度幹事名簿
　　7.“粉末Ｘ線回折図形集”編集にご協力のお願い

Ⅹ.Ｘ線分析関係機器資料