蛍光Ｘ線分析

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蛍光X線分析（XRF：X-Ray Fluorescence）は、物質中の元素の種類と量を非破壊的に分析する方法の一つです。物質に高エネルギーのX線を照射することで、物質中の原子が蛍光X線を放出します。これらの蛍光X線のエネルギーと強度を測定することで、元素の種類と量を決定することができます。

蛍光X線分析は、非常に高感度で、微量の元素の検出にも適しています。また、非破壊的であるため、サンプルの破壊を伴わずに分析することができます。そのため、広く素材科学や地質学、環境科学などで利用されています。

弊社では、波長分散型の蛍光X線装置を採用しておりますので、軽元素や微量元素の検出にも優れています。

固体、粉体を対象としており、ごく微小の試料でも元素の検出が可能です。

分析の対象元素は周期表11Na～92Uまでの元素となっております。

【分析事例】

金属およびセラミックスなどの定性・FP法による半定量

土壌分析

食品異物の同定分析 など

　【参照】⇒［技術紹介］第2回 蛍光X線分析装置による含有元素の定性・定量分析




蛍光Ｘ線スペクトル（試料：Malachite）



PANalytical製 蛍光Ｘ線測定装置 Axios-mAX

分析装置
PANalytical製蛍光Ｘ線測定装置 Axios-mAX